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Examining the Role of Patent Quality in Large-Scale "Patent War" Litigation
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Obwohl das US-Patentsystem wesentlich daran beteiligt war, Innovationen anzukurbeln, haben seine Effizienz und Effektivität in diesem Bereich nachgelassen. Diese Forschungsarbeit stellt zunächst einen historischen Vergleich an und analysiert die wegweisenden Apple- und Wright-Entscheidungen, um zu zeigen dass, ungeachtet des Zeitpunkts, die Vorteile eines Patentsystems wesentlich davon abhängen, wie gut es die "Patentqualität" definiert und erhält. Ein großer Teil der Herausforderung bei der Er…
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  • Autorius: Wael Zohni
  • Leidėjas:
  • Metai: 20180806
  • Puslapiai: 78
  • ISBN-10: 3848751070
  • ISBN-13: 9783848751075
  • Formatas: 15.4 x 22.7 x 1.5 cm, kieti viršeliai
  • Kalba: Anglų

Examining the Role of Patent Quality in Large-Scale "Patent War" Litigation Kieti viršeliai - 20180806

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Aprašymas

Obwohl das US-Patentsystem wesentlich daran beteiligt war, Innovationen anzukurbeln, haben seine Effizienz und Effektivität in diesem Bereich nachgelassen. Diese Forschungsarbeit stellt zunächst einen historischen Vergleich an und analysiert die wegweisenden Apple- und Wright-Entscheidungen, um zu zeigen dass, ungeachtet des Zeitpunkts, die Vorteile eines Patentsystems wesentlich davon abhängen, wie gut es die "Patentqualität" definiert und erhält. Ein großer Teil der Herausforderung bei der Erhaltung einer solchen Qualität bezieht sich auf die subjektive und oft unklare Beschaffenheit von Inventionskriterien wie "Nichtnaheliegen". Wie aktuelle Trends zeigen, führt eine verminderte Patentqualität zu größerer Unklarheit über die Patentgültigkeit, was wiederum mehr Rechtsstreitigkeiten hervorruft. Das Werk schlägt vor dass, um die Konstanz der Patentqualität zu verbessern, das US-Patentamt die ursprünglich von den Gründervätern der USA erdachten Strategien beachten und so ein Patentanmeldungssystem, das den Nutzen und die öffentliche Prüfung beim Patenterteilungsverfahren hervorhebt, schaffen sollte. Moderne Informationstechnologie kann nun genutzt werden, um diesen ursprünglichen Rahmen für Patentqualitätskontrollsysteme effektiv wiederherzustellen.

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  • Autorius: Wael Zohni
  • Leidėjas: Nomos Verlagsges.MBH + Co
  • Metai: 20180806
  • Puslapiai: 78
  • ISBN-10: 3848751070
  • ISBN-13: 9783848751075
  • Formatas: 15.4 x 22.7 x 1.5 cm, kieti viršeliai
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