Su kodu VALIO10 kaina tik 4,94 €
5,49 €
Sparčiųjų skaitmeninių integrinių grandynų ir informacijos keitiklių dinaminių parametrų testavimas
Sparčiųjų skaitmeninių integrinių grandynų ir informacijos keitiklių dinaminių parametrų testavimas
4,94 €
5,49 €
  • Turime sandėlyje
Knygoje pateikiama medžiaga aprėpia sparčiųjų integrinių grandynų (IG), skaitmeninių-analoginių keitiklių (SAK) ir analoginių skaitmeninių keitiklių (ASK) vertinamojo bandymo ir parametrų nustatymo problemas. Elektroninių sistemų testavimas padeda užtikrinti gaminamų sistemų kokybę ir naudojimo patikimumą. Tai svarbus uždavinys šių sistemų gamybos procese. Dabar praktikoje labai plačiai naudojami skaitmeniniai integriniai grandynai (SIG) ir integriniai informacijos keitikliai – skaitmeniniai-a…
4.94 2024-03-28 23:59:00
  • Extra -10 % nuolaida šiai knygai su kodu VALIO1001:49:15

Sparčiųjų skaitmeninių integrinių grandynų ir informacijos keitiklių dinaminių parametrų testavimas | knygos.lt

Atsiliepimai

Formatai:

5,49 € Nauja knyga
minkšti viršeliai

Aprašymas

Knygoje pateikiama medžiaga aprėpia sparčiųjų integrinių grandynų (IG), skaitmeninių-analoginių keitiklių (SAK) ir analoginių skaitmeninių keitiklių (ASK) vertinamojo bandymo ir parametrų nustatymo problemas.

Elektroninių sistemų testavimas padeda užtikrinti gaminamų sistemų kokybę ir naudojimo patikimumą. Tai svarbus uždavinys šių sistemų gamybos procese. Dabar praktikoje labai plačiai naudojami skaitmeniniai integriniai grandynai (SIG) ir integriniai informacijos keitikliai – skaitmeniniai-analoginiai (SAK) bei analoginiai-skaitmeniniai (ASK). Šių įrenginių vertinamojo bandymo problemos sudėtingos, būtini specialūs metodai bei įranga.

Leidinys skirtas Vilniaus Gedimino technikos universiteto elektronikos specialybių magistrantūros studentams, studijuojantiems elektroninių sistemų testavimo (ELESM03701) modulį. Žinios gali būti reikalingos elektronikos inžinieriams praktikams.

EXTRA 10 %nuolaida

4,94 €
5,49 €
Turime sandėlyje

Kupono kodas: VALIO10

Akcija baigiasi už 01:49:15

Nuolaidos kodas galioja perkant nuo 10 €. Nuolaidos nesumuojamos.

Prisijunkite ir už šią prekę
gausite 0,05 Knygų Eurų!?
Pridėti dovanų dėžutę?
Daugiau

Formatai:

5,49 € Nauja knyga
minkšti viršeliai

Knygoje pateikiama medžiaga aprėpia sparčiųjų integrinių grandynų (IG), skaitmeninių-analoginių keitiklių (SAK) ir analoginių skaitmeninių keitiklių (ASK) vertinamojo bandymo ir parametrų nustatymo problemas.

Elektroninių sistemų testavimas padeda užtikrinti gaminamų sistemų kokybę ir naudojimo patikimumą. Tai svarbus uždavinys šių sistemų gamybos procese. Dabar praktikoje labai plačiai naudojami skaitmeniniai integriniai grandynai (SIG) ir integriniai informacijos keitikliai – skaitmeniniai-analoginiai (SAK) bei analoginiai-skaitmeniniai (ASK). Šių įrenginių vertinamojo bandymo problemos sudėtingos, būtini specialūs metodai bei įranga.

Leidinys skirtas Vilniaus Gedimino technikos universiteto elektronikos specialybių magistrantūros studentams, studijuojantiems elektroninių sistemų testavimo (ELESM03701) modulį. Žinios gali būti reikalingos elektronikos inžinieriams praktikams.

Atsiliepimai

  • Atsiliepimų nėra
0 pirkėjai įvertino šią prekę.
5
0%
4
0%
3
0%
2
0%
1
0%