Iš viso: 50,49 €
Reliability studies of GaN High Electron Mobility Transistors
Reliability studies of GaN High Electron Mobility Transistors

Kaina internetu: 50,49 €

  • Išsiųsime per 14–18 d. d.
50.49
  • Autorius: Markus Cäsar
  • Leidėjas:
  • Metai: 20150629
  • Puslapiai: 172
  • ISBN-10: 383960897X
  • ISBN-13: 9783839608975
  • Formatas: 14.4 x 20.5 x 1.5 cm, kieti viršeliai
  • Kalba: Anglų

Reliability studies of GaN High Electron Mobility Transistors Kieti viršeliai - 20150629

Atsiliepimai

Formatai:

50,49 € Nauja knyga
kieti viršeliai

  • Kaina internetu: 50,49 €
  • Už šią prekę gausite 1.51 knygų eurų!
  • Išsiųsime per 14–18 d. d.

Formatai:

50,49 € Nauja knyga
kieti viršeliai

  • Autorius: Markus Cäsar
  • Leidėjas: Fraunhofer Verlag
  • Metai: 20150629
  • Puslapiai: 172
  • ISBN-10: 383960897X
  • ISBN-13: 9783839608975
  • Formatas: 14.4 x 20.5 x 1.5 cm, kieti viršeliai
  • Kalba: Anglų

Atsiliepimai

  • Atsiliepimų nėra
0 pirkėjai įvertino šią prekę.
  • 5
  • 0%
  • 4
  • 0%
  • 3
  • 0%
  • 2
  • 0%
  • 1
  • 0%